کاربرد سنجش فشرده در توموگرافی الکتریکی

در سال های اخیر توموگرافی امپدانس الکتریکی(eit) به دلیل سرعت بالا و غیر مخرب بودن فرآیند نمونه برداری و همچنین کم هزینه بودن تولید سخت افزار در آن مورد توجه بسیاری از تحقیقات، قرار گرفته است و موجب پیشرفت های قابل توجهی در زمینه های پزشکی و صنعتی گردیده است. تصاویری که در eit مورد مطالعه قرار می گیرند تا حدودی اسپارس هستند؛ وجود این ویژگی امکان استفاده از قابلیت های روش سنجش فشرده(cs) در eit را بسیار جذاب می نماید. تئوری cs روش نمونه برداری ای بر پایه ویژگی اسپارس بودن تصاویر است. تمرکز این پایان نامه بر بازیابی تصاویر eit با استفاده از روش های بازیابی تئوری cs می باشد. اما اسپارس بودن تصاویر در eit در حدی نیست که بشود از روش های بازیابی cs به خوبی استفاده نمود در نتیجه در این پایان نامه برای بهبود اسپارسی تصاویر روشی بر پایه ی استفاده از پایه های متعامد مناسب برای اسپارس تر نمودن تصویر ارائه گردیده است. بدین منظور پایه های dwt و dct استفاده شده اند. نتایج نشان می دهند که تصاویری که توسط روش های بازیابی cs بازیابی گردیده اند نمود اسپارس تری نسبت به تصاویری دارند که توسط روش های معمول بازیابی تصاویر در eit بازیابی شده اند.